B. Lamontagne, Edward Sacher, Michael R. Wertheimer
Article de revue (1993)
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Département:
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Titre de la revue
:
Applied Surface Science
(
vol.
64
,
no
3
)
Maison d'édition:
Elsevier
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38189
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Lamontagne, B., Sacher, E., & Wertheimer, M. R. (1993). X-ray photoelectron diffraction and spectroscopy of sputter-deposited or evaporated coinage metals on Si(100). Applied Surface Science, 64(3), 205-213. https://doi.org/10.1016/0169-4332%2893%2990026-8
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