X-ray photoelectron diffraction and spectroscopy of sputter-deposited or evaporated coinage metals on Si(100)

B. Lamontagne, Edward Sacher et Michael R. Wertheimer

Article de revue (1993)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/38189/
Titre de la revue:	Applied Surface Science (vol. 64, no 3)
Maison d'édition:	Elsevier
DOI:	10.1016/0169-4332(93)90026-8
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/0169-4332%2893%2990026-8
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:32

Citer en APA 7:	Lamontagne, B., Sacher, E., & Wertheimer, M. R. (1993). X-ray photoelectron diffraction and spectroscopy of sputter-deposited or evaporated coinage metals on Si(100). Applied Surface Science, 64(3), 205-213. https://doi.org/10.1016/0169-4332%2893%2990026-8
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