B. Lamontagne, Edward Sacher et Michael R. Wertheimer
Article de revue (1993)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38189/ |
| Titre de la revue: | Applied Surface Science (vol. 64, no 3) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/0169-4332(93)90026-8 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/0169-4332%2893%2990026-8 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:01 |
| Citer en APA 7: | Lamontagne, B., Sacher, E., & Wertheimer, M. R. (1993). X-ray photoelectron diffraction and spectroscopy of sputter-deposited or evaporated coinage metals on Si(100). Applied Surface Science, 64(3), 205-213. https://doi.org/10.1016/0169-4332%2893%2990026-8 |
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