Pierre-Luc Girard-Lauriault, J.-C. Ruiz, T. Gross, Paul M. Dietrich, Michael R. Wertheimer
, Wolfgang Unger
Communication écrite (2011)
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Nom de la conférence:
14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11)
Lieu de la conférence:
Cardiff, Wales, UK
Date(s) de la conférence:
2011-09-04 - 2011-09-09
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38170
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:12
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Girard-Lauriault, P.-L., Ruiz, J.-C., Gross, T., Dietrich, P. M., Wertheimer, M. R., & Unger, W. (septembre 2011). Energy and angle resolved XPS (AR-ERXPS) for ultra-shallow chemical and elemental analysis of thin organic coatings [Communication écrite]. 14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11), Cardiff, Wales, UK.
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