Pierre-Luc Girard-Lauriault, J.-C. Ruiz, T. Gross, Paul M. Dietrich, Michael R. Wertheimer
et Wolfgang Unger
Communication écrite (2011)
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| Département: | Département de génie physique |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38170/ |
| Nom de la conférence: | 14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11) |
| Lieu de la conférence: | Cardiff, Wales, UK |
| Date(s) de la conférence: | 2011-09-04 - 2011-09-09 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:12 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:32 |
| Citer en APA 7: | Girard-Lauriault, P.-L., Ruiz, J.-C., Gross, T., Dietrich, P. M., Wertheimer, M. R., & Unger, W. (septembre 2011). Energy and angle resolved XPS (AR-ERXPS) for ultra-shallow chemical and elemental analysis of thin organic coatings [Communication écrite]. 14th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11), Cardiff, Wales, UK. |
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