Gilles Dennler, A. Houdayer, Patrice Raynaud, Y. Ségui et Michael R. Wertheimer
Chapitre de livre (2002)
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| Renseignements supplémentaires: | Metallization of polymers 2. Montréal workshop on Polymer metallization held in Montréal in June 2001. |
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| Département: | Département de génie physique |
| ISBN: | 9781461505631 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38157/ |
| Éditeurs ou éditrices: | Edward Sacher |
| Maison d'édition: | Springer |
| DOI: | 10.1007/978-1-4615-0563-1_14 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_14 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:00 |
| Citer en APA 7: | Dennler, G., Houdayer, A., Raynaud, P., Ségui, Y., & Wertheimer, M. R. (2002). Capabilities and Limitations of RBS to Characterize Hyper-Thin Silicon Compound Layers on Various Polymeric Substrates. Dans Sacher, E. (édit.), Metallization of Polymers 2 (p. 153-163). https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0563-1_14 |
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