John F. Currie, P. Depelsenaire, J. P. Huot, L. Paquin, Michael R. Wertheimer, Arthur Yelon, C. Brassard, J. L'Ecuyer, R. Groleau et J. P. Martin
Article de revue (1983)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38151/ |
Titre de la revue: | Canadian Journal of Physics (vol. 61, no 4) |
Maison d'édition: | Canadian Science Publishing |
DOI: | 10.1139/p83-073 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1139/p83-073 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:32 |
Citer en APA 7: | Currie, J. F., Depelsenaire, P., Huot, J. P., Paquin, L., Wertheimer, M. R., Yelon, A., Brassard, C., L'Ecuyer, J., Groleau, R., & Martin, J. P. (1983). Compositional characterization of microwave plasma a-Si: H films. Canadian Journal of Physics, 61(4), 582-590. https://doi.org/10.1139/p83-073 |
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