Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures

Brassard, C.; Groleau, R.; L'Écuyer, J.; Martin, J.; Currie, John F.; Depelsenaire, P.; Wertheimer, Michael R.; Yelon, Arthur; Brassard, C.; Groleau, R.; L'Écuyer, J.; Martin, J.; Currie, John F.; Depelsenaire, P.; Wertheimer, Michael R.; Yelon, Arthur

Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures

C. Brassard, R. Groleau, J. L'Écuyer, J. Martin, John F. Currie, P. Depelsenaire, Michael R. Wertheimer , Arthur Yelon

Article de revue (1981)

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Département:

Département de génie physique

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/38145/

Titre de la revue :

Journal de Physique Colloques ( vol. 42 , no C4 )

Maison d'édition:

EDP Sciences

DOI:

10.1051/jphyscol:19814174

URL officielle:

https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:38145

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:26

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:29

Citer en APA 7:

Brassard, C., Groleau, R., L'Écuyer, J., Martin, J., Currie, J. F., Depelsenaire, P., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1981). Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures. Journal de Physique Colloques, 42(C4), 795-798. https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174

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