Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures

C. Brassard, R. Groleau, J. L'Écuyer, J. Martin, John F. Currie, P. Depelsenaire, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon

Article de revue (1981)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/38145/
Titre de la revue:	Journal de Physique Colloques (vol. 42, no C4)
Maison d'édition:	EDP Sciences
DOI:	10.1051/jphyscol:19814174
URL officielle:	https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:32

Citer en APA 7:	Brassard, C., Groleau, R., L'Écuyer, J., Martin, J., Currie, J. F., Depelsenaire, P., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1981). Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures. Journal de Physique Colloques, 42(C4), 795-798. https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174
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