C. Brassard, R. Groleau, J. L'Écuyer, J. Martin, John F. Currie, P. Depelsenaire, Michael R. Wertheimer
et Arthur Yelon
Article de revue (1981)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38145/ |
| Titre de la revue: | Journal de Physique Colloques (vol. 42, no C4) |
| Maison d'édition: | EDP Sciences |
| DOI: | 10.1051/jphyscol:19814174 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:00 |
| Citer en APA 7: | Brassard, C., Groleau, R., L'Écuyer, J., Martin, J., Currie, J. F., Depelsenaire, P., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1981). Nuclear Scattering Measurements of Composition Profiles IN a-Si : H Multilayer Structures. Journal de Physique Colloques, 42(C4), 795-798. https://doi.org/10.1051/jphyscol%3a19814174 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
