Y. Liu, D. Zhang, H. Xu, Sayyed Mandi Aie-Emran, B. X. Du
Article de revue (2016)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
(
vol.
23
,
no
4
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:36141
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:26
Citer en APA 7:
Liu, Y., Zhang, D., Xu, H., Aie-Emran, S. M., & Du, B. X. (2016). Characteristic Analysis of Surface Damage and Bulk Micro-Cracks of SiR/SiO2 Nanocomposites Caused by Surface Arc Discharges. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 23(4), 2102-2109. https://doi.org/10.1109/tdei.2016.7556484
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