Studying the relation between anti-patterns in design models and in source code

Karasneh, Bilal; Chaudron, Michel R. V.; Khomh, Foutse; Guéhéneuc, Yann-Gaël; Karasneh, Bilal; Chaudron, Michel R. V.; Khomh, Foutse; Guéhéneuc, Yann-Gaël

Studying the relation between anti-patterns in design models and in source code

Bilal Karasneh, Michel R. V. Chaudron, Foutse Khomh , Yann-Gaël Guéhéneuc

Communication écrite (2016)

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Département:

Département de génie informatique et génie logiciel

ISBN:

9781509018550

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/35632/

Nom de la conférence:

23rd IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution, and Reengineering (SANER 2016)

Lieu de la conférence:

Suita, Japan

Date(s) de la conférence:

2016-03-14 - 2016-03-18

Maison d'édition:

IEEE

DOI:

10.1109/saner.2016.104

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/saner.2016.104

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:35632

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:05

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:25

Citer en APA 7:

Karasneh, B., Chaudron, M. R. V., Khomh, F., & Guéhéneuc, Y.-G. (mars 2016). Studying the relation between anti-patterns in design models and in source code [Communication écrite]. 23rd IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution, and Reengineering (SANER 2016), Suita, Japan. https://doi.org/10.1109/saner.2016.104

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