Studying the relation between anti-patterns in design models and in source code

Bilal Karasneh, Michel R. V. Chaudron, Foutse Khomh et Yann-Gaël Guéhéneuc

Communication écrite (2016)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/35632/
Nom de la conférence:	23rd IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution, and Reengineering (SANER 2016)
Lieu de la conférence:	Suita, Japan
Date(s) de la conférence:	2016-03-14 - 2016-03-18
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/saner.2016.104
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/saner.2016.104
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:28

Citer en APA 7:	Karasneh, B., Chaudron, M. R. V., Khomh, F., & Guéhéneuc, Y.-G. (mars 2016). Studying the relation between anti-patterns in design models and in source code [Communication écrite]. 23rd IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution, and Reengineering (SANER 2016), Suita, Japan. https://doi.org/10.1109/saner.2016.104
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