Mina Mirshahi, Vahid Partovi Nia et Luc Adjengue
Communication écrite (2016)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/35578/ |
| Nom de la conférence: | 5th International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods (ICPRAM 2016) |
| Lieu de la conférence: | Rome, Italy |
| Date(s) de la conférence: | 2016-02-24 - 2016-02-26 |
| Maison d'édition: | SciTePress |
| DOI: | 10.5220/0005628204070414 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.5220/0005628204070414 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:06 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:28 |
| Citer en APA 7: | Mirshahi, M., Partovi Nia, V., & Adjengue, L. (février 2016). Statistical measurement validation with application to electronic nose technology [Communication écrite]. 5th International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods (ICPRAM 2016), Rome, Italy. https://doi.org/10.5220/0005628204070414 |
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