Mina Mirshahi, Vahid Partovi Nia, Luc Adjengue
Communication écrite (2016)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
5th International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods (ICPRAM 2016)
Lieu de la conférence:
Rome, Italy
Date(s) de la conférence:
2016-02-24 - 2016-02-26
Maison d'édition:
SciTePress
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:35578
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:06
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:25
Citer en APA 7:
Mirshahi, M., Partovi Nia, V., & Adjengue, L. (février 2016). Statistical measurement validation with application to electronic nose technology [Communication écrite]. 5th International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods (ICPRAM 2016), Rome, Italy. https://doi.org/10.5220/0005628204070414
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