Root cause analysis of familiarity biases in classification of inventory items based on logical patterns recognition

Diana López-Soto, Soumaya Yacout, Francisco Ángel-Bello

Article de revue (2016)

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Département:
Département de mathématiques et de génie industriel
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/35192/
Titre de la revue :
Computers & Industrial Engineering ( vol. 93 )
Maison d'édition:
Elsevier
DOI:
10.1016/j.cie.2015.12.011
URL officielle:
https://doi.org/10.1016/j.cie.2015.12.011
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:35192
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:24
Citer en APA 7:
López-Soto, D., Yacout, S., & Ángel-Bello, F. (2016). Root cause analysis of familiarity biases in classification of inventory items based on logical patterns recognition. Computers & Industrial Engineering, 93, 121-130. https://doi.org/10.1016/j.cie.2015.12.011

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