Root cause analysis of familiarity biases in classification of inventory items based on logical patterns recognition

Diana López-Soto, Soumaya Yacout et Francisco Ángel-Bello

Article de revue (2016)

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Département:	Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/35192/
Titre de la revue:	Computers & Industrial Engineering (vol. 93)
Maison d'édition:	Elsevier
DOI:	10.1016/j.cie.2015.12.011
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/j.cie.2015.12.011
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:	08 avr. 2025 06:31

Citer en APA 7:	López-Soto, D., Yacout, S., & Ángel-Bello, F. (2016). Root cause analysis of familiarity biases in classification of inventory items based on logical patterns recognition. Computers & Industrial Engineering, 93, 121-130. https://doi.org/10.1016/j.cie.2015.12.011
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