Jane Huffman Hayes, Giuliano Antoniol
, Bram Adams, Yann-Gaël Guéhéneuc
Communication écrite (2015)
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Département:
ISBN:
9781467369053
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
23rd IEEE International Requirements Engineering Conference (RE 2015)
Lieu de la conférence:
Ottawa, ON, Canada
Date(s) de la conférence:
2015-08-24 - 2015-08-28
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:34660
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:23
Citer en APA 7:
Hayes, J. H., Antoniol, G., Adams, B., & Guéhéneuc, Y.-G. (août 2015). Inherent characteristics of traceability artifacts: Less is more [Communication écrite]. 23rd IEEE International Requirements Engineering Conference (RE 2015), Ottawa, ON, Canada. https://doi.org/10.1109/re.2015.7320422
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