Jane Huffman Hayes, Giuliano Antoniol
, Bram Adams et Yann-Gaël Guéhéneuc
Communication écrite (2015)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/34660/ |
| Nom de la conférence: | 23rd IEEE International Requirements Engineering Conference (RE 2015) |
| Lieu de la conférence: | Ottawa, ON, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 2015-08-24 - 2015-08-28 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/re.2015.7320422 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/re.2015.7320422 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:07 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:26 |
| Citer en APA 7: | Hayes, J. H., Antoniol, G., Adams, B., & Guéhéneuc, Y.-G. (août 2015). Inherent characteristics of traceability artifacts: Less is more [Communication écrite]. 23rd IEEE International Requirements Engineering Conference (RE 2015), Ottawa, ON, Canada. https://doi.org/10.1109/re.2015.7320422 |
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