Considerations for On-Wafer Millimeter-Wave Measurements on Thin Ceramic Substrate

Djilali Hammou, Tarek Djerafi, Mourad Nedil, Serioja Ovidiu Tatu

Article de revue (2016)

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel
Unité de recherche:
POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/34217/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ( vol. 65 , no 2 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/tim.2015.2494631
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tim.2015.2494631
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:34217
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:22
Citer en APA 7:
Hammou, D., Djerafi, T., Nedil, M., & Tatu, S. O. (2016). Considerations for On-Wafer Millimeter-Wave Measurements on Thin Ceramic Substrate. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 65(2), 441-447. https://doi.org/10.1109/tim.2015.2494631

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document