Djilali Hammou, Tarek Djerafi, Mourad Nedil et Serioja Ovidiu Tatu
Article de revue (2016)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/34217/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (vol. 65, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tim.2015.2494631 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tim.2015.2494631 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:17 |
| Citer en APA 7: | Hammou, D., Djerafi, T., Nedil, M., & Tatu, S. O. (2016). Considerations for On-Wafer Millimeter-Wave Measurements on Thin Ceramic Substrate. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 65(2), 441-447. https://doi.org/10.1109/tim.2015.2494631 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
