Holographic study of non destructive thermal-stress in multidielectric films coated for 10,6 mu-m

Pierre Baulaigue, D. Aubert, H. Blancher, R. Occelli et J. M. Moynault

Article de revue (1994)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/33559/
Titre de la revue:	Journal of Optics (vol. 25, no 6)
Maison d'édition:	IOP Publishing
DOI:	10.1088/0150-536x/25/6/001
URL officielle:	https://doi.org/10.1088/0150-536x/25/6/001
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:25
Dernière modification:	25 sept. 2024 16:16

Citer en APA 7:	Baulaigue, P., Aubert, D., Blancher, H., Occelli, R., & Moynault, J. M. (1994). Holographic study of non destructive thermal-stress in multidielectric films coated for 10,6 mu-m. Journal of Optics, 25(6), 225-229. https://doi.org/10.1088/0150-536x/25/6/001
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