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Holographic study of non destructive thermal-stress in multidielectric films coated for 10,6 mu-m

Pierre Baulaigue, D. Aubert, H. Blancher, R. Occelli et J. M. Moynault

Article de revue (1994)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/33559/
Titre de la revue: Journal of Optics (vol. 25, no 6)
Maison d'édition: IOP Publishing
DOI: 10.1088/0150-536x/25/6/001
URL officielle: https://doi.org/10.1088/0150-536x/25/6/001
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:24
Citer en APA 7: Baulaigue, P., Aubert, D., Blancher, H., Occelli, R., & Moynault, J. M. (1994). Holographic study of non destructive thermal-stress in multidielectric films coated for 10,6 mu-m. Journal of Optics, 25(6), 225-229. https://doi.org/10.1088/0150-536x/25/6/001

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