<  Retour au portail Polytechnique Montréal

X-ray photoelectron spectroscopy investigation of interfacial interactions in the Cr/BPDA-PDA and Ti/BPDA-PDA systems

A. Chenite, Amine Selmani et Arthur Yelon

Article de revue (1994)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie chimique
Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/33439/
Titre de la revue: Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 12, no 2)
Maison d'édition: American Vacuum Society
DOI: 10.1116/1.579161
URL officielle: https://doi.org/10.1116/1.579161
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:24
Citer en APA 7: Chenite, A., Selmani, A., & Yelon, A. (1994). X-ray photoelectron spectroscopy investigation of interfacial interactions in the Cr/BPDA-PDA and Ti/BPDA-PDA systems. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 12(2), 513-522. https://doi.org/10.1116/1.579161

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document