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Active load-pull measurement system for nonlinear characterization of microwave transistors

S. El-Rabaie et Fadhel M. Ghannouchi

Communication écrite (1994)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/33348/
Nom de la conférence: 1st international Conference on Electronics, Circuits and Systems
Lieu de la conférence: Cairo, Egypt
Date(s) de la conférence: 1994-01-01 - 1994-12-31
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:25
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:16
Citer en APA 7: El-Rabaie, S., & Ghannouchi, F. M. (janvier 1994). Active load-pull measurement system for nonlinear characterization of microwave transistors [Communication écrite]. 1st international Conference on Electronics, Circuits and Systems, Cairo, Egypt.

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