M. K. Shi, B. Lamontagne, Amine Selmani, Ludvik Martinu
, Edward Sacher, Michael R. Wertheimer et Arthur Yelon
Article de revue (1994)
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| Département: |
Département de génie chimique Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32864/ |
| Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 12, no 3) |
| Maison d'édition: | American Vacuum Society |
| DOI: | 10.1116/1.578827 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.578827 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:15 |
| Citer en APA 7: | Shi, M. K., Lamontagne, B., Selmani, A., Martinu, L., Sacher, E., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1994). Metallization of Teflon PFA. II. Interactions of Ti, Ag, and Au measured by X-ray photoelectron spectroscopy. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 12(3), 807-812. https://doi.org/10.1116/1.578827 |
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