G. Foulet, M. Zhang, F. Wehling, M. Groos, Jean-Louis Houle et N. Akkad
Article de revue (1995)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32282/ |
| Titre de la revue: | Analysis (vol. 23, no 5) |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Foulet, G., Zhang, M., Wehling, F., Groos, M., Houle, J.-L., & Akkad, N. (1995). Auger-electron spectroscopy applied to the study of Ta/Ta₂O₅, Ta₂O₅/MnO₂ interfaces. Analysis, 23(5), 215-221. |
|---|---|
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