G. Foulet, M. Zhang, F. Wehling, M. Groos, Jean-Louis Houle, N. Akkad
Article de revue (1995)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Analysis
(
vol.
23
,
no
5
)
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:32282
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:19
Citer en APA 7:
Foulet, G., Zhang, M., Wehling, F., Groos, M., Houle, J.-L., & Akkad, N. (1995). Auger-electron spectroscopy applied to the study of Ta/Ta₂O₅, Ta₂O₅/MnO₂ interfaces. Analysis, 23(5), 215-221.
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