Abdulnour Jawad, Cevdet Akyel et Ke Wu
Article de revue (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32127/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 43, no 5) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/22.382066 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.382066 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:22 |
| Citer en APA 7: | Jawad, A., Akyel, C., & Wu, K. (1995). A generic approach for permittivity measurement of dielectric materials using a discontinuity in a rectangular waveguide or a microstrip line. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 43(5), 1060-1066. https://doi.org/10.1109/22.382066 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
