Jean-Jacques Laurin
, Safwat G. Zaky et Keith G. Balmain
Article de revue (1995)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/32039/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility (vol. 37, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/15.385879 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/15.385879 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:25 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 06:52 |
| Citer en APA 7: | Laurin, J.-J., Zaky, S. G., & Balmain, K. G. (1995). Prediction of delays induced by in-band RFI in CMOS inverters. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 37(2), 167-174. https://doi.org/10.1109/15.385879 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
