R. Benelbar, Bernard Huyart et Rénato Bosisio
Article de revue (1996)
Un lien externe est disponible pour ce document| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31514/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 44, no 10) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/22.538965 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.538965 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Benelbar, R., Huyart, B., & Bosisio, R. (1996). Microwave noise characterization of 2-port devices using an uncalibrated tuner. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 44(10), 1725-1728. https://doi.org/10.1109/22.538965 |
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