S. Q. Chen, R. Vahldieck et Ji Fu Huang
Article de revue (1996)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31410/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 44, no 12) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/22.554583 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/22.554583 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:21 |
| Citer en APA 7: | Chen, S. Q., Vahldieck, R., & Huang, J. F. (1996). Rigorous analysis of mode propagation and field scattering in silicon-based coplanar mis slow-wave structures with abrupt transitions to transmission-lines on normal substrate. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 44(12), 2487-2494. https://doi.org/10.1109/22.554583 |
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