Transmission electron-microscopy and cathodoluminescence of tensile-strained GaₓIn₁₋ₓP/InP heterostructures . 1. Spatial variations of the tensile-stress relaxation

F. Cléton, B. Sieber, A. Lefebvre, A. Bensaada, Rémo A. Masut, J. M. Bonard, J. D. Ganière et M. Ambri

Article de revue (1996)

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Département:	Département de génie physique
Centre de recherche:	GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/31398/
Titre de la revue:	Journal of Applied Physics (vol. 80, no 2)
Maison d'édition:	American Institute of Physics
DOI:	10.1063/1.362892
URL officielle:	https://doi.org/10.1063/1.362892
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:	25 sept. 2024 16:13

Citer en APA 7:	Cléton, F., Sieber, B., Lefebvre, A., Bensaada, A., Masut, R. A., Bonard, J. M., Ganière, J. D., & Ambri, M. (1996). Transmission electron-microscopy and cathodoluminescence of tensile-strained GaₓIn₁₋ₓP/InP heterostructures . 1. Spatial variations of the tensile-stress relaxation. Journal of Applied Physics, 80(2), 827-836. https://doi.org/10.1063/1.362892
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