Dentcho Ivanov et Arthur Yelon
Article de revue (1996)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/31210/ |
| Titre de la revue: | Journal of The Electrochemical Society (vol. 143, no 9) |
| Maison d'édition: | The Electrochemical Society |
| DOI: | 10.1149/1.1837115 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1149/1.1837115 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:13 |
| Citer en APA 7: | Ivanov, D., & Yelon, A. (1996). Chemical sensitivity of the thickness-shear-mode quartz-resonator nanobalance. Journal of The Electrochemical Society, 143(9), 2835-2841. https://doi.org/10.1149/1.1837115 |
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