Christian Robertson, Michael R. Wertheimer
, Daniel Fournier et Laurent Lamarre
Article de revue (1996)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30919/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation (vol. 3, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/94.486780 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/94.486780 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:24 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Robertson, C., Wertheimer, M. R., Fournier, D., & Lamarre, L. (1996). Study on the morphology of XLPE power cable by means of atomic force microscopy. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 3(2), 283-288. https://doi.org/10.1109/94.486780 |
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