Christian Robertson, Michael R. Wertheimer
, Daniel Fournier, Laurent Lamarre
Article de revue (1996)
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
(
vol.
3
,
no
2
)
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30919
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:24
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Robertson, C., Wertheimer, M. R., Fournier, D., & Lamarre, L. (1996). Study on the morphology of XLPE power cable by means of atomic force microscopy. IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 3(2), 283-288. https://doi.org/10.1109/94.486780
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