J. R. Cave, D. W. A. Willen, Raphaël Nadi, W. Zhu, A. Paquette, R. Boivin et Y. Brissette
Article de revue (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30603/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Applied Superconductivity (vol. 7, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/77.614632 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/77.614632 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:20 |
| Citer en APA 7: | Cave, J. R., Willen, D. W. A., Nadi, R., Zhu, W., Paquette, A., Boivin, R., & Brissette, Y. (1997). Testing and modelling of inductive superconducting fault current limiters. IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 7(2), 832-835. https://doi.org/10.1109/77.614632 |
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