Wen Chao Chen, Louis-André Hamel et Arthur Yelon
Article de revue (1997)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30597/ |
| Titre de la revue: | Journal of Non-Crystalline Solids (vol. 220, no 2-3) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0022-3093(97)00260-3 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:12 |
| Citer en APA 7: | Chen, W. C., Hamel, L.-A., & Yelon, A. (1997). Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H. Journal of Non-Crystalline Solids, 220(2-3), 254-260. https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
