A. S. da Silva Sobrinho, J. Chasle, G. Dennler, Michael R. Wertheimer
Article de revue (1998)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:
Unité de recherche:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Plasmas and Polymers
(
vol.
3
,
no
4
)
Maison d'édition:
Kluwer Academic Publishers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29747
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:07
Citer en APA 7:
da Silva Sobrinho, A. S., Chasle, J., Dennler, G., & Wertheimer, M. R. (1998). Characterization of defects in PECVD-SiO₂ coatings on PET by confocal microscopy. Plasmas and Polymers, 3(4), 231-247. https://doi.org/10.1023/a%3a1021854805605
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