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Charge Carrier Effect on the Microwave Losses Observed on Traveling-Wave Electrodes Used in Electro-Optic Modulators

H. R. Khazaei, O. Berolo, R. James, W. J. Wang, P. Maigné, M. Young, K. Ozard, M. Reeves et Fadhel M. Ghannouchi

Article de revue (1998)

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Renseignements supplémentaires: Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
Département: Département de génie électrique
Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/29576/
Titre de la revue: Microwave and Optical Technology Letters (vol. 17, no 4)
Maison d'édition: Wiley
DOI: 10.1002/(sici)1098-2760(199803)17:4<236::aid-mop4>3.0.co;2-j
URL officielle: https://doi.org/10.1002/%28sici%291098-2760%281998...
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:23
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:18
Citer en APA 7: Khazaei, H. R., Berolo, O., James, R., Wang, W. J., Maigné, P., Young, M., Ozard, K., Reeves, M., & Ghannouchi, F. M. (1998). Charge Carrier Effect on the Microwave Losses Observed on Traveling-Wave Electrodes Used in Electro-Optic Modulators. Microwave and Optical Technology Letters, 17(4), 236-241. https://doi.org/10.1002/%28sici%291098-2760%28199803%2917%3a4%3c236%3a%3aaid-mop4%3e3.0.co%3b2-j

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