S. Leclerc, A. Lecours, M. Caron, E. Richard, G. Turcotte et John F. Currie
Article de revue (1998)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
---|---|
Département: | Département de génie physique |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29528/ |
Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 16, no 2) |
Maison d'édition: | American Vacuum Society |
DOI: | 10.1116/1.581028 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.581028 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:11 |
Citer en APA 7: | Leclerc, S., Lecours, A., Caron, M., Richard, E., Turcotte, G., & Currie, J. F. (1998). Electron Cyclotron Resonance Plasma Chemical Vapor Deposited Silicon Nitride for Micromechanical Applications. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 16(2), 881-884. https://doi.org/10.1116/1.581028 |
---|---|
Statistiques
Dimensions