P. Decorse, E. Quenneville, S. Poulin, Michel Meunier
, Arthur Yelon et F. Morin
Article de revue (2001)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
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| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27474/ |
| Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 19, no 3) |
| Maison d'édition: | American Vacuum Society |
| DOI: | 10.1116/1.1368200 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.1368200 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:15 |
| Citer en APA 7: | Decorse, P., Quenneville, E., Poulin, S., Meunier, M., Yelon, A., & Morin, F. (2001). Chemical and structural characterization of La₀.₅Sr₀.₅MnO₃ thin films prepared by pulsed-laser deposition. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 19(3), 910-915. https://doi.org/10.1116/1.1368200 |
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