Chemical and structural characterization of La₀.₅Sr₀.₅MnO₃ thin films prepared by pulsed-laser deposition

P. Decorse, E. Quenneville, S. Poulin, Michel Meunier, Arthur Yelon, F. Morin

Article de revue (2001)

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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
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Titre de la revue :
Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films ( vol. 19 , no 3 )
Maison d'édition:
American Vacuum Society
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:27474
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:03
Citer en APA 7:
Decorse, P., Quenneville, E., Poulin, S., Meunier, M., Yelon, A., & Morin, F. (2001). Chemical and structural characterization of La₀.₅Sr₀.₅MnO₃ thin films prepared by pulsed-laser deposition. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 19(3), 910-915. https://doi.org/10.1116/1.1368200

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