T. Veres, Patrick Desjardins, R. W. Cochrane, M. Cai, M. Rouabhi, L. Cheng, R. Abdouche et M. Sutton
Article de revue (2001)
Un lien externe est disponible pour ce document| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
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| Département: | Département de génie physique |
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26964/ |
| Titre de la revue: | Thin Solid Films (vol. 382, no 1-2) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0040-6090(00)01693-x |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0040-6090%2800%2901693-x |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:16 |
| Citer en APA 7: | Veres, T., Desjardins, P., Cochrane, R. W., Cai, M., Rouabhi, M., Cheng, L., Abdouche, R., & Sutton, M. (2001). Mev Si+ Irradiation of Fe/Ni Bilayers: Influence of Microstructural and Interfacial Changes on Magnetic Properties. Thin Solid Films, 382(1-2), 164-171. https://doi.org/10.1016/s0040-6090%2800%2901693-x |
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