De Quan Yang, Michel Meunier
et Edward Sacher
Article de revue (2001)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26939/ |
| Titre de la revue: | Applied Surface Science (vol. 173, no 1-2) |
| Maison d'édition: | Elsevier |
| DOI: | 10.1016/s0169-4332(00)00895-3 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2800%2900895-3 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:21 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:07 |
| Citer en APA 7: | Yang, D. Q., Meunier, M., & Sacher, E. (2001). The Estimation of the Average Dimensions of Deposited Clusters From XPS Emission Intensity Ratios. Applied Surface Science, 173(1-2), 134-139. https://doi.org/10.1016/s0169-4332%2800%2900895-3 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
