A. V. Kabashin, J. P. Sylvestre, S. Patskovsky et Michel Meunier
Article de revue (2002)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26543/ |
Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 91, no 5) |
Maison d'édition: | American Institute of Physics |
DOI: | 10.1063/1.1446217 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.1446217 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:13 |
Citer en APA 7: | Kabashin, A. V., Sylvestre, J. P., Patskovsky, S., & Meunier, M. (2002). Correlation Between Photoluminescence Properties and Morphology of Laser-Ablated Si/SiOₓ Nanostructured Films. Journal of Applied Physics, 91(5), 3248-3254. https://doi.org/10.1063/1.1446217 |
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