A. V. Kabashin, J. P. Sylvestre, Sergiy Patskovsky, Michel Meunier
Article de revue (2002)
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Titre de la revue
:
Journal of Applied Physics
(
vol.
91
,
no
5
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26543
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:02
Citer en APA 7:
Kabashin, A. V., Sylvestre, J. P., Patskovsky, S., & Meunier, M. (2002). Correlation Between Photoluminescence Properties and Morphology of Laser-Ablated Si/SiOₓ Nanostructured Films. Journal of Applied Physics, 91(5), 3248-3254. https://doi.org/10.1063/1.1446217
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