A. V. Kabashin, J. P. Sylvestre, Sergiy Patskovsky et Michel Meunier
Article de revue (2002)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/26543/ |
| Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 91, no 5) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.1446217 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.1446217 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 21 mars 2025 17:15 |
| Citer en APA 7: | Kabashin, A. V., Sylvestre, J. P., Patskovsky, S., & Meunier, M. (2002). Correlation Between Photoluminescence Properties and Morphology of Laser-Ablated Si/SiOₓ Nanostructured Films. Journal of Applied Physics, 91(5), 3248-3254. https://doi.org/10.1063/1.1446217 |
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