Yves Quiquempois, Nicolas Godbout
, Suzanne Lacroix
Article de revue (2002)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Physical Review A
(
vol.
65
,
no
4
)
Maison d'édition:
American Physical Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:26343
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:21
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:01
Citer en APA 7:
Quiquempois, Y., Godbout, N., & Lacroix, S. (2002). Model of Charge Migration During Thermal Poling in Silica Glasses: Evidence of a Voltage Threshold for the Onset of a Second-Order Nonlinearity. Physical Review A, 65(4), 043816-043816. https://doi.org/10.1103/physreva.65.043816
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