Maksim A. Skorobogatiy
, Steven A. Jacobs, Steven G. Johnson, Michel Meunier et Yoel Fink
Communication écrite (2004)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24601/ |
| Nom de la conférence: | Photonic Crystal Materials and Nanostructures |
| Lieu de la conférence: | Strasbourg, France |
| Date(s) de la conférence: | 2004-04-27 - 2004-04-29 |
| Maison d'édition: | SPIE - International Society for Optical Engineering |
| DOI: | 10.1117/12.545249 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.545249 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:04 |
| Citer en APA 7: | Skorobogatiy, M. A., Jacobs, S. A., Johnson, S. G., Meunier, M., & Fink, Y. (avril 2004). Modeling the impact of manufacturing imperfections on photonic crystal device performance: design of perturbation-tolerant PGB components [Communication écrite]. Photonic Crystal Materials and Nanostructures, Strasbourg, France. https://doi.org/10.1117/12.545249 |
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