Measurement of the Atomic Cs[6(2)P(3/2)(F-E=5)] Hyperfine Level Effective Decay Rate Near a Metallic Film With Diode Laser Retrofluorescence Spectroscopy

Jean-Marie Gagné, Claude Kondo Assi et Karine Le Bris

Article de revue (2005)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/24145/
Titre de la revue:	Journal of the Optical Society of America. B, Optical Physics (vol. 22, no 10)
Maison d'édition:	Optical Society of America
DOI:	10.1364/josab.22.002242
URL officielle:	https://doi.org/10.1364/josab.22.002242
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:09

Citer en APA 7:	Gagné, J.-M., Assi, C. K., & Le Bris, K. (2005). Measurement of the Atomic Cs[6(2)P(3/2)(F-E=5)] Hyperfine Level Effective Decay Rate Near a Metallic Film With Diode Laser Retrofluorescence Spectroscopy. Journal of the Optical Society of America. B, Optical Physics, 22(10), 2242-2249. https://doi.org/10.1364/josab.22.002242
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