Jean-Marie Gagné, Claude Kondo Assi et Karine Le Bris
Article de revue (2005)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24145/ |
Titre de la revue: | Journal of the Optical Society of America. B, Optical Physics (vol. 22, no 10) |
Maison d'édition: | Optical Society of America |
DOI: | 10.1364/josab.22.002242 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/josab.22.002242 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:03 |
Citer en APA 7: | Gagné, J.-M., Assi, C. K., & Le Bris, K. (2005). Measurement of the Atomic Cs[6(2)P(3/2)(F-E=5)] Hyperfine Level Effective Decay Rate Near a Metallic Film With Diode Laser Retrofluorescence Spectroscopy. Journal of the Optical Society of America. B, Optical Physics, 22(10), 2242-2249. https://doi.org/10.1364/josab.22.002242 |
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