T. Liu, S. Boumaiza, M. Helaoui, H. B. Nasr et Fadhel M. Ghannouchi
Communication écrite (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23923/ |
| Nom de la conférence: | IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2005) |
| Date(s) de la conférence: | 2005-06-12 - 2005-06-17 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/mwsym.2005.1517132 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/mwsym.2005.1517132 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
| Citer en APA 7: | Liu, T., Boumaiza, S., Helaoui, M., Nasr, H. B., & Ghannouchi, F. M. (juin 2005). Behavior modeling procedure of wideband RF transmitters exhibiting memory effects [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2005). https://doi.org/10.1109/mwsym.2005.1517132 |
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