B. Nicolescu, N. Ignat, Yvon Savaria
et Gabriela Nicolescu
Communication écrite (2005)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23818/ |
| Nom de la conférence: | 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005) |
| Date(s) de la conférence: | 2005-09-19 - 2005-09-23 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/radecs.2005.4365596 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/radecs.2005.4365596 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
| Citer en APA 7: | Nicolescu, B., Ignat, N., Savaria, Y., & Nicolescu, G. (septembre 2005). Sensitivity of real-time operating systems to transient faults : A cause study for microC kernel [Communication écrite]. 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005). https://doi.org/10.1109/radecs.2005.4365596 |
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