Domain decomposition FDTD algorithm combining with numerical TL calibration technique for parameter extraction of substrate integrated circuits

Feng Xu et Ke Wu

Communication écrite (2005)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/23542/
Nom de la conférence:	IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2005)
Date(s) de la conférence:	2005-06-12 - 2005-06-17
Maison d'édition:	IEEE
DOI:	10.1109/mwsym.2005.1516556
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/mwsym.2005.1516556
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:08

Citer en APA 7:	Xu, F., & Wu, K. (juin 2005). Domain decomposition FDTD algorithm combining with numerical TL calibration technique for parameter extraction of substrate integrated circuits [Communication écrite]. IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS 2005). https://doi.org/10.1109/mwsym.2005.1516556
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