Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction

S. Milita, Clara Santato, Fabio Cicoira

Article de revue (2006)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue :
Applied Surface Science ( vol. 252 , no 22 )
Maison d'édition:
Elsevier
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22743
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:17
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:55
Citer en APA 7:
Milita, S., Santato, C., & Cicoira, F. (2006). Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction. Applied Surface Science, 252(22), 8022-8027. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.04.028

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document