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Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction

S. Milita, Clara Santato et Fabio Cicoira

Article de revue (2006)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/22743/
Titre de la revue: Applied Surface Science (vol. 252, no 22)
Maison d'édition: Elsevier
DOI: 10.1016/j.apsusc.2006.04.028
URL officielle: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.04.028
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:17
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:01
Citer en APA 7: Milita, S., Santato, C., & Cicoira, F. (2006). Structural investigation of thin tetracene films on flexible substrate by synchrotron X-ray diffraction. Applied Surface Science, 252(22), 8022-8027. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.04.028

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