Sergiy Patskovsky, S. Bah, Michel Meunier
, Andrei Kabashin
Article de revue (2006)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Applied Optics
(
vol.
45
,
no
25
)
Maison d'édition:
Optical Society of America
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22653
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:55
Citer en APA 7:
Patskovsky, S., Bah, S., Meunier, M., & Kabashin, A. (2006). Characterization of high refractive index semiconductor films by surface plasmon resonance. Applied Optics, 45(25), 6640-6645. https://doi.org/10.1364/ao.45.006640
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