Characterization of high refractive index semiconductor films by surface plasmon resonance

S. Patskovsky, S. Bah, Michel Meunier et Andrei Kabashin

Article de revue (2006)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/22653/
Titre de la revue:	Applied Optics (vol. 45, no 25)
Maison d'édition:	Optical Society of America
DOI:	10.1364/ao.45.006640
URL officielle:	https://doi.org/10.1364/ao.45.006640
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:07

Citer en APA 7:	Patskovsky, S., Bah, S., Meunier, M., & Kabashin, A. (2006). Characterization of high refractive index semiconductor films by surface plasmon resonance. Applied Optics, 45(25), 6640-6645. https://doi.org/10.1364/ao.45.006640
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Répertoire des publications (EndNote)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel