Sergiy Patskovsky, S. Bah, Michel Meunier
et Andrei Kabashin
Article de revue (2006)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22653/ |
| Titre de la revue: | Applied Optics (vol. 45, no 25) |
| Maison d'édition: | Optical Society of America |
| DOI: | 10.1364/ao.45.006640 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ao.45.006640 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:10 |
| Citer en APA 7: | Patskovsky, S., Bah, S., Meunier, M., & Kabashin, A. (2006). Characterization of high refractive index semiconductor films by surface plasmon resonance. Applied Optics, 45(25), 6640-6645. https://doi.org/10.1364/ao.45.006640 |
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