Domain Decomposition FDTD Algorithm Combined With Numerical Tl Calibration Technique and Its Application in Parameter Extraction of Substrate Integrated Circuits

Feng Xu, Ke Wu, Wei Hong

Article de revue (2006)

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Titre de la revue :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques ( vol. 54 , no 1 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:22392
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:55
Citer en APA 7:
Xu, F., Wu, K., & Hong, W. (2006). Domain Decomposition FDTD Algorithm Combined With Numerical Tl Calibration Technique and Its Application in Parameter Extraction of Substrate Integrated Circuits. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 54(1), 329-338. https://doi.org/10.1109/tmtt.2005.860503

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